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产品图片 产品名称型号 品牌/产地 主要技术指标 价格(元)
涂层测厚仪TIME2500 涂层测厚仪-TIME2500 时代仪器 完全替代TT220 洽询
涂层测厚仪(磁性+涡流两用)CTG260 涂层测厚仪(磁性+涡流两用)-CTG260 嘉仪仪器 配置F1或N1探头, 可磁性/涡流自行转换 洽询
薄膜测厚仪Millimar 1240 薄膜测厚仪-Millimar 1240 德国马尔Mahr 显示: 模拟/数字 洽询
涂层测厚仪(磁性法)CTG220 涂层测厚仪(磁性法)-CTG220 嘉仪仪器 测量范围:0~1250μm 洽询
薄膜测厚仪Millimar S1840 薄膜测厚仪-Millimar S1840 德国马尔Mahr 动态测量:Max, Min, Max-Min, Max+Min,平均值 洽询
高性能X射线荧光测量仪XAN 250/252 高性能X射线荧光测量仪-XAN 250/252 德国菲希尔Fischer RoHS检测、材料分析和镀层厚度测量 洽询
智能涂层测厚仪TT260+w101 智能涂层测厚仪-TT260+w101 时代仪器 使用环境温度:0~40℃  洽询
STODA涂层测厚仪STD2100 STODA涂层测厚仪-STD2100 国产 测量范围:0~1250μm 洽询
台式涂层测厚仪MMS PC2 台式涂层测厚仪-MMS PC2 德国菲希尔Fischer 用于涂层厚度测量和材料测试 洽询
X 射线荧光测试仪XDV -μ X 射线荧光测试仪-XDV -μ 德国菲希尔Fischer 可以对100μm或更小的结构进行分析 洽询
涂层测厚仪Elcometer 456 涂层测厚仪-Elcometer 456 英国易高 最小基体厚度 300μm(12mils),除非有特殊的校准调节  洽询
高性能X射线荧光测试仪XDV -SDD 高性能X射线荧光测试仪-XDV -SDD 德国菲希尔Fischer 可自动测量超薄镀层和分析痕量元素 洽询
X射线荧光测试仪器XUL X射线荧光测试仪器-XUL 德国菲希尔Fischer 用于电镀行业中的镀层厚度测量 洽询
X 射线荧光测量系统X-RAY 4000 X 射线荧光测量系统-X-RAY 4000 德国菲希尔Fischer 连续的在线测量和分析 洽询
手持式涂层测厚仪PMP10 手持式涂层测厚仪-PMP10 德国菲希尔Fischer 测量多种基材上的,包括小型结构和粗糙表面上的导电涂层的厚度 洽询
X 射线荧光测试仪XDAL X 射线荧光测试仪-XDAL 德国菲希尔Fischer 不适合测量十分细小的结构 洽询
高性能X射线荧光测试仪XUV  773 高性能X射线荧光测试仪-XUV 773 德国菲希尔Fischer 配有真空室,适用于材料无损分析 洽询
涂层测厚仪TT290 涂层测厚仪-TT290 时代仪器 测量范围 0-1250μm 洽询
涂镀层测厚仪QNix4500 涂镀层测厚仪-QNix4500 德国尼克斯 显示精度 1μm;  0-999μm:0.1μm,1000μm以上,0.01mm 
 
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涂镀层测厚仪QNix4200 涂镀层测厚仪-QNix4200 德国尼克斯 显示精度 1μm  ; 0-999μm:0.1μm,1000μm以上,0.01mm 

工作温度  -10 - +60℃ 

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